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歷時6年(nian)的研發(fa)(fa)，荷蘭飛(fei)納公司于2018年(nian)推出了首(shou)套(tao)穩定運行的臺式場(chang)發(fa)(fa)射(she)（FEG）電(dian)鏡能(neng)譜一體機Phenom LE臺式場(chang)發(fa)(fa)射(she)電(dian)鏡能(neng)譜一體機，采用肖特基場(chang)發(fa)(fa)射(she)電(dian)子(zi)(zi)槍（FEG），集背散(san)射(she)電(dian)子(zi)(zi)成像(xiang)、二次電(dian)子(zi)(zi)成像(xiang)和(he)能(neng)譜分析于一體。飛(fei)納臺式場(chang)發(fa)(fa)射(she)電(dian)鏡操作簡(jian)單，效率高，無(wu)需(xu)防震臺和(he)磁屏蔽，無(wu)樓層要(yao)求(qiu)，只需(xu)要(yao)一張承重200kg的桌子(zi)(zi)。
Delphi CLEM熒光掃描電(dian)鏡一(yi)體機是荷蘭掃描電(dian)鏡制造(zao)商 Phenom-World 和荷蘭熒光顯微鏡制造(zao)商 Delmic 于 2014 年(nian)聯(lian)合(he)推出(chu)的將熒光顯微鏡和臺式電(dian)鏡高度整合(he)在一(yi)起的設備。
Phenom GSRqiang擊殘留(liu)物臺式掃(sao)(sao)描電鏡(jing)在qiangzhi犯(fan)罪事件中(zhong)，qiang擊殘留(liu)物 GSR 的(de)分(fen)析將發揮重要的(de)作(zuo)用。GSR 分(fen)析技術(shu)首(shou)先基于掃(sao)(sao)描電子顯微鏡(jing) （SEM） 的(de)背散射(she)成像，用來(lai)掃(sao)(sao)描樣(yang)品和(he)發現可疑的(de) “GSR” 顆(ke)粒(li)。一旦發現可疑的(de)顆(ke)粒(li)，使用能(neng)譜(pu)識別在該(gai)粒(li)子中(zhong)的(de)元(yuan)素。Z常見的(de)搜(sou)(sou)索元(yuan)素為 Pb，Sb 和(he) Ba。無鉛(qian)底火的(de)檢測，例如 Ti 和(he) Zn 也可Z為搜(sou)(sou)索條件進(jin)行搜(sou)(sou)索。
Phenom Pure 高(gao)性價比(bi)標準版電子顯(xian)微鏡(jing)是一(yi)款操作方便(bian)、界(jie)面友好的(de)臺式電鏡(jing)，用慣光(guang)學顯(xian)微鏡(jing)的(de)用戶只需稍(shao)加培訓即可(ke)輕(qing)松操作這(zhe)款電鏡(jing)。這(zhe)款電鏡(jing)具有掃描電鏡(jing)的(de)一(yi)切基本功能，可(ke)以滿足(zu)用戶的(de)大部分成像需求。
Phenom Pro高分(fen)辨(bian)率(lv)(lv)專業版(ban)電(dian)子(zi)顯微鏡是飛納電(dian)鏡系列中(zhong)良好(hao)的(de)產(chan)品，第五代 Phenom Pro 放(fang)大倍(bei)數提升為 150,000 倍(bei)，分(fen)辨(bian)率(lv)(lv)優于 8 nm，30 秒(miao)快速得到表面細(xi)節豐富的(de)高質量圖像，是目前世(shi)界上分(fen)辨(bian)率(lv)(lv)Z高的(de)臺式(shi)掃描電(dian)鏡，可用于測量亞微米或納米尺度的(de)樣品；
Phenom ProX 是(shi)第五(wu)代電鏡能譜一體機(ji)，是(shi)*的(de)集成(cheng)(cheng)化成(cheng)(cheng)像分(fen)析(xi)系統，分(fen)辨(bian)率(lv)提升 20%，進一步增加(jia)應用(yong)(yong)范圍，更加(jia)適用(yong)(yong)于對(dui)電子束敏感的(de)樣品。借助該系統，既可觀(guan)察樣品的(de)表面(mian)形貌，又(you)可分(fen)析(xi)其元素組(zu)分(fen)。
